文献
J-GLOBAL ID:200902073902380883
整理番号:92A0841868
走査型Hallプローブ顕微鏡
Scanning Hall probe microscopy.
著者 (9件):
CHANG A M
(AT&T Bell Lab., New Jersey)
,
HALLEN H D
(AT&T Bell Lab., New Jersey)
,
HARRIOTT L
(AT&T Bell Lab., New Jersey)
,
HESS H F
(AT&T Bell Lab., New Jersey)
,
KAO H L
(AT&T Bell Lab., New Jersey)
,
KWO J
(AT&T Bell Lab., New Jersey)
,
WOLFE R
(AT&T Bell Lab., New Jersey)
,
VAN DER ZIEL J
(AT&T Bell Lab., New Jersey)
,
CHANG T Y
(AT&T Bell Lab., New Jersey)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
61
号:
16
ページ:
1974-1976
発行年:
1992年10月19日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)