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文献
J-GLOBAL ID:200902074709947910   整理番号:83A0248667

高密度プリント基板の計算制御光学テスト

Computer-controlled optical testing of high-density printed-circuit boards.
著者 (4件):
WEST M A
(IBM, NY)
DeFOSTER S M
(IBM, NY)
BALDWIN E C
(IBM, NY)
ZIEGLER R A
(IBM, NY)

資料名:
IBM Journal of Research and Development  (IBM Journal of Research and Development)

巻: 27  号:ページ: 50-58  発行年: 1983年01月 
JST資料番号: D0061B  ISSN: 0018-8646  CODEN: IBMJAE  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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