前のページに戻る
この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写（冊子体のコピー）をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID：200902076047689420
整理番号：90A0568794
不揮発性メモリ応用のための薄いポリ間誘電体の信頼性研究
Reliability study of thin inter-poly dielectrics for non-volatile memory application.
MORI S
(TOSHIBA Corp., Kawasaki, JPN)
,
KANEKO Y
(TOSHIBA Corp., Kawasaki, JPN)
,
ARAI N
(TOSHIBA Microelectronics Corp., Kawasaki, JPN)
,
OHSHIMA Y
(TOSHIBA Corp., Kawasaki, JPN)
,
ARAKI H
(TOSHIBA Corp., Kawasaki, JPN)
,
NARITA K
(TOSHIBA Corp., Kawasaki, JPN)
,
SAKAGAMI E
(TOSHIBA Corp., Kawasaki, JPN)
,
YOSHIKAWA K
(TOSHIBA Corp., Kawasaki, JPN)
資料名：
Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium
(Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium)
巻： 28th ページ： 132-144 発行年： 1990年
JST資料番号： A0631A ISSN： 1541-7026 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写（コピー）して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写（コピー）は郵送またはFAXでお送りします
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。