文献
J-GLOBAL ID:200902076587769768
整理番号:87A0061407
370Wマイクロ波誘導ヘリウムプラズマにおけるC,H,N,O,F,Cl,Br,I,P,S及びSiの赤外及び近赤外領域発光の広領域干渉測定による特性化
Comprehensive interferometric characterization of red and near-infrared emissions of C, H, N, O, F, Cl, Br, I, P, S, and Si in a 370-W microwave-induced helium plasma.
著者 (4件):
PIVONKA D E
(Kansas State Univ., KS, USA)
,
SCHLEISMAN A J J
(Kansas State Univ., KS, USA)
,
FATELEY W G
(Kansas State Univ., KS, USA)
,
FRY R C
(Kansas State Univ., KS, USA)
資料名:
Applied Spectroscopy
(Applied Spectroscopy)
巻:
40
号:
6
ページ:
766-772
発行年:
1986年08月
JST資料番号:
A0429A
ISSN:
0003-7028
CODEN:
APSPA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)