文献
J-GLOBAL ID:200902076614046005
整理番号:86A0366943
疲れ限度としきい値に対する降伏応力と粒径の影響
Effect of yield stress and grain size on threshold and fatigue limit.
著者 (2件):
MUTOH Y
(Technological Univ. Nagaoka)
,
RADHAKRISHNAN V M
(I.I.T., India)
資料名:
Journal of Engineering Materials and Technology
(Journal of Engineering Materials and Technology)
巻:
108
号:
2
ページ:
174-178
発行年:
1986年04月
JST資料番号:
C0998A
ISSN:
0094-4289
CODEN:
JEMTA8
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)