文献
J-GLOBAL ID:200902077371935406
整理番号:93A0332189
重水素アニールした酸化物中の放射線照射後の界面トラップ増大の時間依存性
The Time-Dependence of Post-Irradiation Interface Trap Build-up in Deuterium-Annealed Oxides.
著者 (2件):
SAKS N S
(Naval Research Lab., Washington, D.C.)
,
RENDELL R W
(Naval Research Lab., Washington, D.C.)
資料名:
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻:
39
号:
6 Pt 1
ページ:
2220-2229
発行年:
1992年12月
JST資料番号:
C0235A
ISSN:
0018-9499
CODEN:
IETNAE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)