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J-GLOBAL ID：200902078117231519 整理番号：91A0940606

MIC誘電体基板の複素誘電率異方性の温度依存性測定

Temperature-Dependence Measurement of Anisotropy of Complex Permittivity For MIC Dielectric Substrates.

著者 (2件)：

小林よし夫

(埼玉大工)

YU J

(埼玉大工)

資料名：

電子情報通信学会技術研究報告 (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))

巻： 91 号： 265(EMCJ91 38-57) ページ： 117-124 発行年： 1991年10月11日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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