文献
J-GLOBAL ID:200902078433869363
整理番号:87A0377628
RISCマイクロプロセッサの効率的検査法
Efficient testing of RISc microprocessors.
著者 (3件):
HSU J T-G
(Hewlett-Packard Lab., CA, USA)
,
LEE R B-L
(Hewlett-Packard Lab., CA, USA)
,
BURROUGHS G D
(Hewlett-Packard Lab., CA, USA)
資料名:
Digest of Technical Papers. IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design
(Digest of Technical Papers. IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design)
巻:
1986
ページ:
15-18
発行年:
1986年
JST資料番号:
D0968C
ISSN:
1092-3152
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)