文献
J-GLOBAL ID:200902079706032069
整理番号:88A0356180
原子間力顕微鏡による高分解能静電容量測定と電位差測定
High-resolution capacitance measurement and potentiometry by force microscopy.
著者 (3件):
MARTIN Y
(IBM Research Division, NY, USA)
,
ABRAHAM D W
(IBM Research Division, NY, USA)
,
WICKRAMASINGHE H K
(IBM Research Division, NY, USA)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
52
号:
13
ページ:
1103-1105
発行年:
1988年03月28日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)