文献
J-GLOBAL ID:200902079982201052
整理番号:91A0146489
二次イオン質量分析による主元素の深さ方向分析におけるCsX+クラスタイオンの利用
On the use of CsX+ cluster ions for major element depth profiling in secondary ion mass spectrometry.
著者 (3件):
MAGEE C W
(Evans East, Inc., NJ, USA)
,
HARRINGTON W L
(Evans East, Inc., NJ, USA)
,
BOTNICK E M
(Evans East, Inc., NJ, USA)
資料名:
International Journal of Mass Spectrometry and Ion Processes
(International Journal of Mass Spectrometry and Ion Processes)
巻:
103
号:
1
ページ:
45-56
発行年:
1990年12月31日
JST資料番号:
D0625A
ISSN:
0168-1176
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)