前のページに戻る
この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写（冊子体のコピー）をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID：200902080314547425
整理番号：85A0474140
ファイ(Φ)-プサイ(Ψ)自動ゴニオメータによる単結晶と大粒子のひずみ測定
Strain measurements on single crystals and macrograins with the aid of an automated phi-psi goniometer.
PATHIRAJ B
(Twente Univ. Technology, The Netherlands)
,
KOSTER H
(Twente Univ. Technology, The Netherlands)
,
NIJSSEN A M
(Twente Univ. Technology, The Netherlands)
,
WILLEMSE P F
(Twente Univ. Technology, The Netherlands)
,
KOLSTER B H
(Twente Univ. Technology, The Netherlands)
資料名：
Advances in X-Ray Analysis
(Advances in X-Ray Analysis)
巻： 28 ページ： 297-304 発行年： 1985年
JST資料番号： H0119C 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写（コピー）して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写（コピー）は郵送またはFAXでお送りします
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。
※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。