文献
J-GLOBAL ID:200902080397539860
整理番号:88A0276518
同時誤り診断可能な帯行列乗算のためのシストリックアレイの設計
The design of concurrent error diagnosable systolic arrays for band matrix multiplications.
著者 (2件):
CHAN S-W
(Michigan State Univ., MI, USA)
,
WEY C-L
(Michigan State Univ., MI, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
(IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻:
7
号:
1
ページ:
21-37
発行年:
1988年01月
JST資料番号:
B0142C
ISSN:
0278-0070
CODEN:
ITCSDI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)