文献
J-GLOBAL ID:200902081127070166
整理番号:87A0116239
SiC(0001)およびSiC(0001)の表面偏析の電子分光による比較
Comparative electron spectroscopic studies of surface segregation on SiC(0001) and SiC(000<span style=text-decoration:overline>1</span>)
著者 (4件):
MUEHLHOFF L
(Univ. Pittsburgh, PA, USA)
,
CHOYKE W J
( Westinghouse Research & Development Center, PA, USA)
,
BOZACK M J
(Univ. Pittsburgh, PA, USA)
,
YATES J T JR
(Univ. Pittsburgh, PA, USA)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
60
号:
8
ページ:
2842-2853
発行年:
1986年10月15日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)