文献
J-GLOBAL ID:200902082344979934
整理番号:86A0484854
金属薄膜の電子有効質量または膜厚を決定する新らしく簡単な方法
A new simple method of determining the effective mass of an electron or the thickness of thin metal films.
著者 (1件):
SZCZYRBOWSKI J
(Academy of Mining and Metallurgy, Poland)
資料名:
Journal of Physics. D. Applied Physics
(Journal of Physics. D. Applied Physics)
巻:
19
号:
7
ページ:
1257-1263
発行年:
1986年07月14日
JST資料番号:
B0092B
ISSN:
0022-3727
CODEN:
JPAPBE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)