文献
J-GLOBAL ID:200902082993694760
整理番号:85A0103867
ホール素子型探触子を用いて得られる欠陥漏れ磁界模様の非旋回性
Deconvolution of defect leakage field profiles obtained by using hall element probes.
著者 (2件):
LORD W
(Colorado State Univ.)
,
SRINIVASAN L
(Colorado State Univ.)
資料名:
Review of Progress in Quantitative Nondestructive Evaluation, Vol.3B
(Review of Progress in Quantitative Nondestructive Evaluation, Vol.3B)
ページ:
855-862
発行年:
1984年
JST資料番号:
K19840625
ISBN:
0-306-41678-6
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)