文献
J-GLOBAL ID:200902083085430925
整理番号:90A0900478
半導性の酸化ガリウム薄膜の安定性
Stability of semiconducting gallium oxide thin films.
著者 (3件):
FLEISCHER M
(Siemens A.G., Muenchen, DEU)
,
HANRIEDER W
(Siemens A.G., Muenchen, DEU)
,
MEIXNER H
(Siemens A.G., Muenchen, DEU)
資料名:
Thin Solid Films
(Thin Solid Films)
巻:
190
号:
1
ページ:
93-102
発行年:
1990年09月01日
JST資料番号:
B0899A
ISSN:
0040-6090
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)