文献
J-GLOBAL ID:200902084391614378
整理番号:87A0037517
電子ビームシステムのVLSI故障診断への統合化
Integrating an electron-beam system into VLSI fault diagnosis.
著者 (2件):
TAMAMA T
(NTT Electrical Communications Lab., Atsugi, JPN)
,
KUJI N
(NTT Electrical Communications Lab., Atsugi, JPN)
資料名:
IEEE Design & Test of Computers
(IEEE Design & Test of Computers)
巻:
3
号:
4
ページ:
23-29
発行年:
1986年08月
JST資料番号:
B0007C
ISSN:
0740-7475
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)