文献
J-GLOBAL ID:200902085728643690
整理番号:88A0099144
すず母材の低レベルコネクタ接点におけるフレッチング腐食に及ぼす接点パラメータの影響
The influence of practical contact parameters on fretting corrosion of tin-base low-level connector contacts.
著者 (2件):
HOOYER J M
(Philips, Metallurgical Lab., Eindhoven, NLD)
,
PEEKSTOK K
(Philips, Metallurgical Lab., Eindhoven, NLD)
資料名:
Proceedings of the Meeting of the IEEE Holm Conference on Electrical Contacts Phenomena
(Proceedings of the Meeting of the IEEE Holm Conference on Electrical Contacts Phenomena)
巻:
33rd
ページ:
43-51
発行年:
1987年
JST資料番号:
E0462C
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)