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文献
J-GLOBAL ID：200902086862513987
整理番号：93A0120752
PZT薄膜の結晶学的相の特性評価
Characterization of PZT thin films crystallographic phases.
GOEHNER R P
(Sandia National Lab., New Mexico)
,
EATOUGH M O
(Sandia National Lab., New Mexico)
,
TUTTLE B A
(Sandia National Lab., New Mexico)
,
HEADLEY T J
(Sandia National Lab., New Mexico)
資料名：
Advances in X-Ray Analysis
(Advances in X-Ray Analysis)
巻： 35A ページ： 159-167 発行年： 1992年
JST資料番号： H0119C 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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