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文献
J-GLOBAL ID：200902087036535334
整理番号：88A0249411
鏡面の構造化ハイライト検査
Structured highlight inspection of specular surfaces.
SANDERSON A C
(Carnegie-Mellon Univ., PA, USA)
,
WEISS L E
(Carnegie-Mellon Univ., PA, USA)
,
NAYAR S K
(Carnegie-Mellon Univ., PA, USA)
資料名：
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence
(IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence)
巻： 10 号： 1 ページ： 44-55 発行年： 1988年01月
JST資料番号： B0519B ISSN： 0162-8828 CODEN： ITPIDJ 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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