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文献
J-GLOBAL ID:200902088665134225   整理番号:92A0741192

走査型探針顕微鏡における相互作用力の検出 方法と応用

Interaction force detection in scanning probe microscopy: Methods and applications.
著者 (3件):
DUERIG U
(IBM Research Division, Rueschlikon, CHE)
ZUEGER O
(IBM Research Division, Rueschlikon, CHE)
STALDER A
(IBM Research Division, Rueschlikon, CHE)

資料名:
Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)

巻: 72  号:ページ: 1778-1798  発行年: 1992年09月01日 
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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