文献
J-GLOBAL ID:200902088665134225
整理番号:92A0741192
走査型探針顕微鏡における相互作用力の検出 方法と応用
Interaction force detection in scanning probe microscopy: Methods and applications.
著者 (3件):
DUERIG U
(IBM Research Division, Rueschlikon, CHE)
,
ZUEGER O
(IBM Research Division, Rueschlikon, CHE)
,
STALDER A
(IBM Research Division, Rueschlikon, CHE)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
72
号:
5
ページ:
1778-1798
発行年:
1992年09月01日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)