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文献
J-GLOBAL ID：200902090135649458
整理番号：91A0421733
超伝導薄膜の臨界電流密度と臨界温度の測定のための非接触法
A contactless method for measurement of the critical current density and critical temperature of superconducting films.
CLAASSEN J H
(Naval Research Lab., Washington, D.C.)
,
REEVES M E
(Naval Research Lab., Washington, D.C.)
,
SOULEN R J JR
(Naval Research Lab., Washington, D.C.)
資料名：
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻： 62 号： 4 ページ： 996-1004 発行年： 1991年04月
JST資料番号： D0517A ISSN： 0034-6748 CODEN： RSINAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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