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文献
J-GLOBAL ID：200902091434656173
整理番号：91A0342171
簡約IDDQテストセット付きCMOS IC縮退故障達成度の向上
Increased CMOS IC stuck-at fault coverage with reduced IDDQ test sets.
FRITZEMEIER R R
(Sandia National Lab., NM)
,
SODEN J M
(Sandia National Lab., NM)
,
TREECE R K
(Sandia National Lab., NM)
,
HAWKINS C F
(Univ. New Mexico, NM)
資料名：
Proceedings. International Test Conference
(Proceedings. International Test Conference)
巻： 1990 ページ： 427-435 発行年： 1990年
JST資料番号： E0211B ISSN： 1089-3539 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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