文献
J-GLOBAL ID:200902092158016285
整理番号:88A0223656
III-Vオプトエレクトロニックデバイスの劣化
Degradation of III-V opto-electronic devices.
著者 (1件):
UEDA O
(Fujitsu Lab. Ltd., Atsugi, JPN)
資料名:
Journal of the Electrochemical Society
(Journal of the Electrochemical Society)
巻:
135
号:
1
ページ:
11C-22C
発行年:
1988年01月
JST資料番号:
C0285A
ISSN:
1945-7111
CODEN:
JESOAN
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
解説
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)