文献
J-GLOBAL ID:200902092545036782
整理番号:86A0549298
GaAs/InGaAs系のしま状層超格子のX線透過トポグラフィー
X-ray transmission topography of GaAs/InGaAs strained layer superlattices.
著者 (4件):
JONCOUR M C
(Centre National d’Etudes des T<span style=text-decoration:overline>e ́</span>l<span style=text-decoration:overline>e ́</span>communications, France)
,
MELLET R
(Centre National d’Etudes des T<span style=text-decoration:overline>e ́</span>l<span style=text-decoration:overline>e ́</span>communications, France)
,
CHARASSE M N
(Centre National d’Etudes des T<span style=text-decoration:overline>e ́</span>l<span style=text-decoration:overline>e ́</span>communications, France)
,
BURGEAT J
(Centre National d’Etudes des T<span style=text-decoration:overline>e ́</span>l<span style=text-decoration:overline>e ́</span>communications, France)
資料名:
Journal of Crystal Growth
(Journal of Crystal Growth)
巻:
75
号:
2
ページ:
295-300
発行年:
1986年05月
JST資料番号:
B0942A
ISSN:
0022-0248
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)