文献
J-GLOBAL ID:200902092743590140
整理番号:87A0135451
ネオンのZピンチプラズマの定量的X線分光
Quantitative x-ray spectroscopy of neon Z-pinch plasmas.
著者 (5件):
MEHLMAN G
(Sachs/Freeman Assoc. Inc., MD, USA)
,
BURKHALTER P G
(Naval Research Lab., Washington D.C., USA)
,
STEPHANAKIS S J
(Naval Research Lab., Washington D.C., USA)
,
YOUNG F C
(Naval Research Lab., Washington D.C., USA)
,
NAGEL D J
(Naval Research Lab., Washington D.C., USA)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
60
号:
10
ページ:
3427-3432
発行年:
1986年11月15日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)