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文献
J-GLOBAL ID：200902093450278130
整理番号：91A0357393
QUIETEST 漏れ故障検出のための静かな電流試験方法
QUIETEST: A quiescent current testing methodology for detecting leakage faults.
MAO W
(Ford Microelectronics, Inc., CO)
,
GULATI R K
(Ford Microelectronics, Inc., CO)
,
GOEL D K
(Ford Microelectronics, Inc., CO)
,
CILETTI M D
(Univ. Colorado, CO)
資料名：
Digest of Technical Papers. IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design
(Digest of Technical Papers. IEEE/ACM International Conference on Computer-Aided Design)
巻： 1990 ページ： 280-283 発行年： 1990年
JST資料番号： D0968C ISSN： 1092-3152 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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