文献
J-GLOBAL ID:200902099443127400
整理番号:87A0155935
絶縁破壊電圧と絶縁破壊時間への印加正衝撃電圧峻度の影響
Breakdown voltage and time-to-breakdown as influenced by the steepness of the applied positive impulse.
著者 (2件):
ABDEL-SALAM M
(Michigan Technological Univ., MI, USA)
,
TURKY A A
(Assiut Univ., Assiut, EGY)
資料名:
Conference Record of the IEEE Industry Applications Conference
(Conference Record of the IEEE Industry Applications Conference)
巻:
21st
号:
Vol.2
ページ:
1246-1252
発行年:
1986年
JST資料番号:
A0713B
ISSN:
0197-2618
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)