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文献
J-GLOBAL ID：200902099497561521
整理番号：81A0034286
非晶質半導体によるピコ秒オプトエレクトロニック検出,サンプリング及び相関測定
Picosecond optoelectronic detection, sampling, and correlation measurements in amorphous semiconductors.
AUSTON D H
(Bell Lab., New Jersey)
,
JOHNSON A M
(Bell Lab., New Jersey)
,
SMITH P R
(Bell Lab., New Jersey)
,
BEAN J C
(Bell Lab., New Jersey)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 37 号： 4 ページ： 371-373 発行年： 1980年08月15日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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