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J-GLOBAL ID：200902100061229988 整理番号：93A0602934

配向したポリテトラフルオロエチレン基板の走査トンネル顕微鏡による研究

Scanning tunneling microscopy study of oriented poly(tetrafluoroethylene) substrates.

著者 (5件)：

BODOE P

(Linkoeping Univ., Linkoeping, SWE)

ZIEGLER C

(Eberhard-Karls-Univ., Tuebingen, DEU)

RASMUSSON J R

(Linkoeping Univ., Linkoeping, SWE)

SALANECK W R

(Linkoeping Univ., Linkoeping, SWE)

CLARK D T

(ICI, Cleveland, GBR)

資料名：

Synthetic Metals (Synthetic Metals)

巻： 55 号： 1 ページ： 329-334 発行年： 1993年03月15日
JST資料番号： C0123B ISSN： 0379-6779 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：オランダ (NLD) 言語：英語 (EN)

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