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文献
J-GLOBAL ID：200902100576596100
整理番号：93A0661665
Pb(Zr,Ti)O3薄膜キャパシタの疲労に対する結晶品質および電極材料の影響
Effects of crystalline quality and electrode material on fatigue in Pb(Zr,Ti)O3 thin film capacitors.
LEE J
(Rutgers-The State Univ. New Jersey, New Jersey)
,
JOHNSON L
(Rutgers-The State Univ. New Jersey, New Jersey)
,
SAFARI A
(Rutgers-The State Univ. New Jersey, New Jersey)
,
RAMESH R
(Bellcore, New Jersey)
,
SANDS T
(Bellcore, New Jersey)
,
GILCHRIST H
(Bellcore, New Jersey)
,
KERAMIDAS V G
(Bellcore, New Jersey)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 63 号： 1 ページ： 27-29 発行年： 1993年07月05日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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