文献
J-GLOBAL ID:200902100653878180
整理番号:93A0704759
Diffraction Anomalous Fine Structure: A New Technique for Probing Local Atomic Environment.
著者 (4件):
PICKERING I J
(Stanford Univ., California)
,
SANSONE M
(Exxon Research and Engineering Co., New Jersey)
,
MARSCH J
(Exxon Research and Engineering Co., New Jersey)
,
GEORGE G N
(Stanford Univ., California)
資料名:
Journal of the American Chemical Society
(Journal of the American Chemical Society)
巻:
115
号:
14
ページ:
6302-6311
発行年:
1993年07月14日
JST資料番号:
C0254A
ISSN:
0002-7863
CODEN:
JACSAT
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)