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文献
J-GLOBAL ID：200902100903132554
整理番号：00A1026716
走査型トンネル顕微鏡によるSi(111)7×7表面上のアニリンの観察
Study of aniline on a Si(111)7×7 surface by scanning tunneling microscopy.
TOMIMOTO H
(Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN)
,
SUMII R
(Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN)
,
SHIROTA N
(Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN)
,
YAGI S
(Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN)
,
TANIGUCHI M
(Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN)
,
SEKITANI T
(Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN)
,
TANAKA K
(Hiroshima Univ., Higashi-Hiroshima, JPN)
資料名：
Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures
(Journal of Vacuum Science & Technology. B. Microelectronics and Nanometer Structures)
巻： 18 号： 5 ページ： 2335-2338 発行年： 2000年09月
JST資料番号： E0974A ISSN： 1071-1023 CODEN： JVTBD9 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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