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文献
J-GLOBAL ID：200902101804931832
整理番号：02A0780965
原子間力顕微鏡像の自動化グリッチ検出/修復法
An automated glitch-detection/restoration method of atomic force microscope images.
HYON C
(Korea Univ., Seoul, KOR)
,
OH S
(Korea Univ., Seoul, KOR)
,
KIM H
(Korea Univ., Seoul, KOR)
,
SULL S
(Korea Univ., Seoul, KOR)
,
HWANG S
(Korea Univ., Seoul, KOR)
,
AHN D
(Univ. Seoul, Seoul, KOR)
,
PARK Y
(Korea Inst. Sci. and Technol., Seoul, KOR)
,
KIM E
(Korea Inst. Sci. and Technol., Seoul, KOR)
資料名：
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻： 73 号： 9 ページ： 3245-3250 発行年： 2002年09月
JST資料番号： D0517A ISSN： 0034-6748 CODEN： RSINAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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