文献
J-GLOBAL ID:200902102152318927
整理番号:94A0868326
ビスマス-ストロンチウム-カルシウム-銅酸化物薄膜における欠陥形成のミクロ分析研究
Microanalytical Study of Defect Formation in Thin Bismuth Strontium Calcium Copper Oxide Films.
著者 (9件):
HOWELL R H
(Lawrence Livermore National Lab., CA)
,
CHAIKEN A
(Lawrence Livermore National Lab., CA)
,
MUSKET R G
(Lawrence Livermore National Lab., CA)
,
WALL M A
(Lawrence Livermore National Lab., CA)
,
BALOOCH M
(Lawrence Livermore National Lab., CA)
,
PHINNEY D
(Lawrence Livermore National Lab., CA)
,
ECKSTEIN J N
(Varian Assoc., CA)
,
BOZOVIC I
(Varian Assoc., CA)
,
VIRSHUP G F
(Varian Assoc., CA)
資料名:
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻:
2158
ページ:
182-190
発行年:
1994年
JST資料番号:
D0943A
ISSN:
0277-786X
CODEN:
PSISDG
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)