文献
J-GLOBAL ID:200902102362046482
整理番号:93A0629818
SiO2の集束イオンビーム注入と反応性イオンエッチングを用いたドライリソグラフィー
Dry lithography using focused ion beam implantation and reactive ion etching of SiO2.
著者 (2件):
CHOQUETTE K D
(AT&T Bell Lab., New Jersey)
,
HARRIOTT L R
(AT&T Bell Lab., New Jersey)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
62
号:
25
ページ:
3294-3296
発行年:
1993年06月21日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)