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文献
J-GLOBAL ID：200902102649881781
整理番号：00A0812131
Pt/SiO2/Si基板上のPb(ZrxTi1-x)O3薄膜の強誘電体特性の配向依存性
Orientation dependence of ferroelectric properties of Pb(ZrxTi1-x)O3 thin films on Pt/SiO2/Si substrates.
FUJITA H
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
IMADE M
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
SAKASHITA M
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
SAKAI A
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
ZAIMA S
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
,
YASUDA Y
(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
資料名：
Applied Surface Science
(Applied Surface Science)
巻： 159/160 ページ： 134-137 発行年： 2000年06月
JST資料番号： B0707B ISSN： 0169-4332 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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