文献
J-GLOBAL ID:200902102655183050
整理番号:93A0514423
動力学的低エネルギー電子回折によるCoSi2(111)の表面結晶学
Surface crystallography of CoSi2(111) determined by dynamical low-energy electron diffraction.
著者 (5件):
ZHOU Y
(Univ. Illinois at Chicago, Illinois)
,
CAMPUZANO J C
(Univ. Illinois at Chicago, Illinois)
,
KAUKASOINA P
(Tampere Univ. Technology, Tampere, FIN)
,
LINDROOS M
(Tampere Univ. Technology, Tampere, FIN)
,
JENNINGS G
(Argonne National Lab., Illinois)
資料名:
Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics
(Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics)
巻:
47
号:
16
ページ:
10395-10401
発行年:
1993年04月15日
JST資料番号:
D0746A
ISSN:
1098-0121
CODEN:
PRBMDO
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)