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文献
J-GLOBAL ID:200902103481360477   整理番号:93A0388342

スキップ2線走査を用いたディジタル測長法

Digital Contour Length Measurement by Skipped Dual Lines Raster Scanning.
著者 (3件):
中島勝行
(久留米工高専)
大淵豊
(久留米工高専)
井上勝敬
(大阪大)

資料名:
電気学会論文誌 D  (IEEJ Transactions on Industry Applications)

巻: 113  号:ページ: 357-363  発行年: 1993年03月 
JST資料番号: X0451A  ISSN: 0913-6339  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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