文献
J-GLOBAL ID:200902103635806210
整理番号:93A0656840
自律TPG回路の2パターンテスト能力
Special Issue on VLSI Testing and Testable Design. Two-Pattern Test Capabilities of Autonomous TGP Circuits.
著者 (2件):
FURUYA K
(Chuo Univ., Tokyo, JPN)
,
MCCLUSKEY E J
(Stanford Univ., CA, USA)
資料名:
IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
(IEICE Transactions on Information and Systems (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
E76-D
号:
7
ページ:
800-808
発行年:
1993年07月
JST資料番号:
L1371A
ISSN:
0916-8532
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)