文献
J-GLOBAL ID:200902103874397550
整理番号:94A0099372
Single electron transfer from the channel of a sub-μm MOSFET to an individual interface trap.
著者 (3件):
SCHULZ M
(Univ. Erlangen, Erlangen, DEU)
,
PAPPAS A
(Univ. Erlangen, Erlangen, DEU)
,
VENNEMANN J
(Univ. Erlangen, Erlangen, DEU)
資料名:
Physics and Chemistry of SiO2 and the Si-SiO2 Interface 2
(Physics and Chemistry of SiO2 and the Si-SiO2 Interface 2)
ページ:
383-392
発行年:
1993年
JST資料番号:
K19940015
ISBN:
0-306-44419-4
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)