文献
J-GLOBAL ID:200902104077291867
整理番号:94A0084586
PKG自動テスト方式のテストコストに関する一考察 ファンクションテスト,インサーキットテスト方式と比較したバウンダリスキャン方式
A Consideration of testing cost about automatic board-level testing method. the advantage of Boundary-Scan compared to Functional or In-Circuit testing.
著者 (1件):
河村一
(日本電気)
資料名:
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
93
号:
372(FTS93 50-58)
ページ:
1-8
発行年:
1993年12月10日
JST資料番号:
S0532B
ISSN:
0913-5685
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)