文献
J-GLOBAL ID:200902104137649243
整理番号:00A1058380
フリップチップとチップサイズパッケージの信頼性
Reliability of flip chip and chip size packages.
著者 (3件):
REICHL H
(Fraunhofer Inst. Reliability and Microintegration, Berlin, DEU)
,
SCHUBERT A
(Fraunhofer Inst. Reliability and Microintegration, Berlin, DEU)
,
TOEPPER M
(Fraunhofer Inst. Reliability and Microintegration, Berlin, DEU)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
40
号:
8/10
ページ:
1243-1254
発行年:
2000年08月
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
文献レビュー
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)