文献
J-GLOBAL ID:200902104810250030
整理番号:96A0895771
GaAs中のEL2に対する300Kでの電子捕獲断面積の簡単な測定
Simple measurement of 300K electron capture cross section for EL2 in GaAs.
著者 (2件):
LOOK D C
(Wright State Univ., Ohio)
,
FANG Z-Q
(Wright State Univ., Ohio)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
80
号:
6
ページ:
3590-3591
発行年:
1996年09月15日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)