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文献
J-GLOBAL ID：200902105795825922
整理番号：02A0093654
ピコ秒のサーモリフレクタンス技術を使用した金属薄膜のための熱拡散率の測定系の開発
Development of a thermal diffusivity measurement system for metal thin films using a picosecond thermoreflectance technique.
TAKETOSHI N
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN)
,
BABA T
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN)
,
ONO A
(National Inst. Advanced Industrial Sci. and Technol., Ibaraki, JPN)
資料名：
Measurement Science and Technology
(Measurement Science and Technology)
巻： 12 号： 12 ページ： 2064-2073 発行年： 2001年12月
JST資料番号： C0354C ISSN： 0957-0233 CODEN： MSTCEP 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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