文献
J-GLOBAL ID:200902105885875732
整理番号:93A0271873
Element-Specific Magnetic Microscopy with Circularly Polarized X-rays.
著者 (8件):
STOEHR J
(IBM Research Division, CA)
,
WU Y
(IBM Research Division, CA)
,
HERMSMEIER B D
(IBM San Jose, CA)
,
SAMANT M G
(IBM Research Division, CA)
,
HARP G R
(IBM Research Division, CA)
,
KORANDA S
(Univ. Wisconsin-Madison, WI)
,
DUNHAM D
(Univ. Wisconsin-Madison, WI)
,
TONNER B P
(Univ. Wisconsin-Madison, WI)
資料名:
Science
(Science)
巻:
259
号:
5095
ページ:
658-661
発行年:
1993年01月29日
JST資料番号:
E0078A
ISSN:
0036-8075
CODEN:
SCIEA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)