文献
J-GLOBAL ID:200902106248044505
整理番号:99A0619506 集束イオンビームにより作製した近視野光学顕微鏡法用のナノスリットプローブ
Nano-slit probes for near-field optical microscopy fabricated by focused ion beams.
著者 (6件): DANZEBRINK H U
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig, DEU)
,
DZIOMBA T
(Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig, DEU)
,
SULZBACH T
(Nanosensors Dr Olaf Wolter GmbH, Wetzlar, DEU)
,
OHLSSON O
(Nanosensors Dr Olaf Wolter GmbH, Wetzlar, DEU)
,
LEHRER C
(Fraunhofer Inst. Integrierte Schaltungen - Bauelementetechnol., Erlangen, DEU)
,
FREY L
(Fraunhofer Inst. Integrierte Schaltungen - Bauelementetechnol., Erlangen, DEU)
資料名:
Journal of Microscopy
(Journal of Microscopy)
巻:
194
号:
2/3
ページ:
335-339
発行年:
1999年05月
JST資料番号:
B0454B
ISSN:
0022-2720
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)