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文献
J-GLOBAL ID：200902106522370082
整理番号：93A0635714
CMOS形ICの短絡故障のテスト技術に関する実験による研究
An Experimental Study of Testing Techniques for Bridging Faults in CMOS IC’s.
LANZONI M
(Univ. Bologna, Bologna, ITA)
,
FAVALLI M
(Univ. Bologna, Bologna, ITA)
,
AMBANELLI M
(Univ. Bologna, Bologna, ITA)
,
OLIVO P
(Univ. Bologna, Bologna, ITA)
,
RICCO B
(Univ. Bologna, Bologna, ITA)
資料名：
IEEE Journal of Solid-State Circuits
(IEEE Journal of Solid-State Circuits)
巻： 28 号： 6 ページ： 686-690 発行年： 1993年06月
JST資料番号： B0761A ISSN： 0018-9200 CODEN： IJSCBC 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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