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文献
J-GLOBAL ID：200902106680814737
整理番号：01A0964196
MWP-fit ab initio理論関数によって回折ピークプロファイルを多重全プロファイル適合させるためのプログラム
MWP-fit: A program for multiple whole-profile fitting of diffraction peak profiles by ab initio theoretical functions.
RIBARIK G
(Eoetvoes Univ. Budapest, Budapest, HUN)
,
UNGAR T
(Eoetvoes Univ. Budapest, Budapest, HUN)
,
GUBICZA J
(Eoetvoes Univ. Budapest, Budapest, HUN)
資料名：
Journal of Applied Crystallography
(Journal of Applied Crystallography)
巻： 34 号： 5 ページ： 669-676 発行年： 2001年10月
JST資料番号： D0631A ISSN： 0021-8898 CODEN： JACGAR 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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