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J-GLOBAL ID：200902106803884689 整理番号：01A0318258

多層誘電体コーティングの分光偏光解析法

Spectroscopic ellipsometry of multilayer dielectric coatings.

著者 (4件)：

BHATTACHARYYA D

(Bhabha Atomic Res. Centre, Mumbai, IND)

SAHOO N K

(Bhabha Atomic Res. Centre, Mumbai, IND)

THAKUR S

(Bhabha Atomic Res. Centre, Mumbai, IND)

DAS N C

(Bhabha Atomic Res. Centre, Mumbai, IND)

資料名：

Vacuum (Vacuum)

巻： 60 号： 4 ページ： 419-424 発行年： 2001年03月
JST資料番号： E0347A ISSN： 0042-207X 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

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